ASA技術，排除電(diàn)子(zǐ)故障的(dí)Z佳方(fāng)案

更新時間：2009-03-27

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1，電(diàn)子元(yuán)器件測試(shì)需求和(hé)測(cè)試成本
電子元器件(jiàn)測(cè)試(shì)必要性是(shì)顯(xiǎn)而易見的(dí)，尤其(qí)是近年來(lái)“電子(zǐ)垃圾”（假冒(mào)偽(wěi)劣(liè)電子(zǐ)元(yuán)器件(jiàn)）湧入(rù)國(guó)內(nèi)市場，魚目混(hùn)珠(zhū)，嚴重(zhòng)威(wēi)脅(xié)了整(zhěng)機和係統(tǒng)的(dí)可(kě)靠性，這(zhè)一(yī)情況已經(jīng)引(yǐn)起了很(hěn)多單位的重視，進而配備了不(bù)同(tóng)檔次(cì)的測試(shì)係統(tǒng)對(duì)元器(qì)件進行測試和(hé)篩選(xuǎn)。
　　但針對(duì)不同的測試對象和具(jù)體的要求，需要(yào)選擇不同(tóng)檔次(cì)的(dí)測試係統，同(tóng)時也就(jiù)決定了不同(tóng)的測試(shì)成(chéng)本。例如對(duì)於通(tōng)用數(shù)字集成電路來說(shuō)，如(rú)果測試(shì)其靜態(tài)邏輯(jí)功(gōng)能(néng)，隻需(xū)使(shǐ)用幾千(qiān)元(yuán)的功(gōng)能(néng)測試儀(yí)（俗(sú)稱PASS機），要(yào)測(cè)試其(qí)靜態(tài)直(zhí)流參(cān)數(shù)，則需(xū)要幾(jī)萬元(yuán)乃至(zhì)十幾(jī)萬(wàn)元的小型(xíng)測試(shì)係統，而測試其交流參數(shù)，則(zé)需要(yào)幾(jī)十萬元乃至更(gēng)昂貴的中，大(dà)型(xíng)測試係(xì)統。
　　在集成電路的詳(xiáng)細規(guī)範中(zhōng)規定(dìng)了(liǎo)集成電(diàn)路的(dí)各(gè)類參數(shù)，並規定(dìng)了在A組檢驗和質量一致(zhì)性(xìng)檢驗中各分(fēn)組和各試(shì)驗(yàn)項(xiàng)目中應(yīng)該進行(háng)哪些(xiē)參數(shù)的測試(shì)。集成(chéng)電路的生(shēng)產廠商在生產(chǎn)過(guò)程中(zhōng)，原則上遵照和(hé)執(zhí)行產品的詳細規範(fàn)。對(duì)他(tā)們來說，執行(háng)產(chǎn)品的詳(xiáng)細(xì)規範就(jiù)是測(cè)試需(xū)求。應(yīng)該說(shuō)這種需求是(shì)明(míng)確的(dí)，是有標準(zhǔn)做為(wéi)依(yī)據(jù)的，通常也(yě)是(shì)可以(yǐ)做(zuò)到(dào)的，因為集成電路的生(shēng)產廠(chǎng)商一般都配有執行(háng)產品(pǐn)詳(xiáng)細規範所需(xū)的(dí)測試係(xì)統(tǒng)。
　　但(dàn)對(duì)於(yú)集成電(diàn)路的應用(yòng)者(zhě) （如(rú)整機(jī)廠商）來說(shuō)，情況(kuàng)就復雜得(dé)多，各單位(wèi)所(suǒ)擁有的測試係統(tǒng)檔次(cì)參(cān)差不齊，還有相當多的單(dān)位不(bù)具(jù)備zui起(qǐ)碼的測試手(shǒu)段。沒有統一的標準來規定(dìng)應用在(zài)什(shí)麼(mó)場合(hé)的器件(jiàn)在出(chū)入庫(kù)檢驗或(huò)篩(shāi)選(xuǎn)中(zhōng)應(yīng)該(gāi)進(jìn)行哪些參數的測(cè)試(shì)。由(yóu)於測試需(xū)求(qiú)不明確(què)，也(yě)就(jiù)很(hěn)難(nán)說配(pèi)備什麼樣的(dí)測(cè)試(shì)係(xì)統才合(hé)理，對於大(dà)多數(shù)整(zhěng)機廠商(shāng)來說(shuō)，實際的(dí)做(zuò)法是能測些什(shí)麼參數(shù)就(jiù)測什(shí)麼(mó)參數，測不了(liǎo)的(dí)參數就不測(cè)。外協測(cè)試的情況基本也是如此(cǐ)。
　　即便(biàn)有了明確(què)的(dí)測(cè)試要求，一(yī)般也難於(yú)根據測試需(xū)求去爭取(qǔ)相(xiāng)應(yīng)的資(zī)金來購買和(hé)配備(bèi)所需的(dí)測試(shì)設備，而往(wǎng)往(wǎng)是隻(zhī)能根(gēn)據(jù)所能爭取到(dào)的資(zī)金來(lái)考(kǎo)慮(lǜ)和選擇(zé)可能(néng)購買的測(cè)試設備(bèi)，由測試設備的檔(dàng)次決(jué)定了(liǎo)可(kě)能的測(cè)試內(nèi)容。
　　一些單位在爭取(qǔ)到資金(jīn)，進行測(cè)試係統(tǒng)選型時容易(yì)有(yǒu)一種不切(qiē)實際的(dí)想(xiǎng)法，想買一(yī)個測試(shì)係(xì)統(tǒng)解決所有電子(zǐ)元(yuán)器(qì)件的(dí)測(cè)試，免(miǎn)得(dé)求助(zhù)於他(tā)人，到其(qí)他單(dān)位去進(jìn)行(háng)測(cè)試協作(zuò)，這也許是一些單位在測(cè)試(shì)係統選型(xíng)時貪大求洋(yáng)的(dí)理由之一(yī)。很少有人考慮測試(shì)係(xì)統(tǒng)的低效(xiào)率運(yùn)行(háng)導(dǎo)致(zhì)的(dí)高(gāo)測試(shì)成本(běn)。應該說實(shí)際上(shàng)沒(méi)有哪(nǎ)一個測試係統(tǒng)能包(bāo)羅萬(wàn)象測(cè)試(shì)當前和(hé)今後所有(yǒu)的(dí)電子(zǐ)元(yuán)器(qì)件(jiàn)，如果能解決(jué)本單(dān)位使用(yòng)的大多數(shù)電子(zǐ)元器件的測(cè)試，而(ér)將少數復雜器件(jiàn)進行外協測試(shì)，恰恰是降低(dī)測(cè)試(shì)成(chéng)本的(dí)有(yǒu)效方法(fǎ)之一。
　　因為(wéi)測試係統(tǒng)的(dí)選(xuǎn)型(xíng)還(huán)是(shì)要根據各(gè)單位的(dí)具(jù)體(tǐ)情況(kuàng)，綜合考慮本單(dān)位使(shǐ)用(yòng)的元(yuán)器件品種(zhǒng)，用(yòng)量，測(cè)試的(dí)要(yào)求(qiú)和內容，所需測(cè)試係統的(dí)檔(dàng)次，性(xìng)能和(hé)配置，單(dān)位(wèi)自身的(dí)軟件(jiàn)開(kāi)發(fā)能力及(jí)由(yóu)供(gōng)應商提(tí)供軟件的可能，供(gōng)應商(shāng)能提供(gōng)的(dí)係統維護(hù)和(hé)的能力和水(shuǐ)平(píng)，購(gòu)置係統(tǒng)的(dí)經(jīng)濟(jì)承受能力(lì)和資金來(lái)源等(děng)諸多方麵(miàn)的因素(sù)，來(lái)選擇(zé)適合自(zì)己的測試(shì)係統。
　　2，電(diàn)子(zǐ)故(gù)障排(pái)除(chú)方案綜述
　　在電(diàn)子設(shè)計(jì)和維修檢測中，故障(zhàng)排(pái)除是zui讓人頭疼(téng)的問(wèn)題，以(yǐ)往(wǎng)在很多企業(yè)，排除故障(zhàng)要麼得不到重視，要麼(mó)得到(dào)重視(shì)也(yě)找不(bù)到一種(zhǒng)很有效的(dí)方案(àn)。傳統的方(fāng)法是(shì)一些有經驗的工(gōng)程師(shī)憑(píng)借(jiè)一大堆測試設備(bèi)（譬如(rú)：萬(wàn)用表(biǎo)，示波器(qì)，頻(pín)率計(jì)，邏(luó)輯(jí)分析儀等(děng)）和(hé)一些必要(yào)的電路圖及相關資料(liào)等(děng)采(cǎi)用(yòng)“師(shī)帶徒”的古老方法處理電子故障問題…… 但是隨著科學(xué)的(dí)發展，各種元(yuán)件的產(chǎn)生，產(chǎn)品(pǐn)的日(rì)益(yì)多(duō)元化(huà)，以(yǐ)及(jí)一(yī)些廠家“保(bǎo)密”的(dí)需要(yào)，這種“古老的(dí)方法”受(shòu)到挑(tiāo)戰(zhàn)，同時(shí)由於(yú)各種歷(lì)史(shǐ)和社(shè)會需求(qiú)的(dí)原因，一些(xiē)有經(jīng)驗的(dí)工(gōng)程(chéng)師更(gēng)是“難覓(mì)”，這(zhè)樣一些(xiē)新型測試產品應用而(ér)生(shēng)，它們(mén)想盡方(fāng)法(fǎ)解(jiě)決(jué)排(pái)除(chú)電(diàn)子故障(zhàng)以下(xià)新型問(wèn)題：
　　① 沒有(yǒu)電(diàn)路原理(lǐ)圖(tú)以及(jí)相(xiāng)關(guān)資料
　　② 工程(chéng)師(shī)沒有(yǒu)相應的閱歷(lì)和經驗
　　③ 大批量生(shēng)產(chǎn)的(dí)同類(lèi)產(chǎn)品(pǐn)不同原因(yīn)的故障點檢測
　　④ 離綫排除(chú)變為(wéi)離(lí)綫(xiàn)和在(zài)綫(xiàn)綜合排除
　　⑤ 更進一步(bù)聯(lián)網的(dí)自(zì)動檢(jiǎn)測(cè)
　　現在(zài)，一種廣泛使(shǐ)用既(jì)經濟又實用(yòng)快(kuài)速的對(duì)比定(dìng)性(xìng)排(pái)除故(gù)障(zhàng)方法(fǎ)——ASA技(jì)術(shù)應運而生。
　　3，什麼(mó)是ASA技術
　　所謂ASA技術(shù)，即模擬曲綫分析（Analog Signature Analgsis），是(shì)斷(duàn)電排除(chú)電(diàn)子故障(zhàng)的(dí)*技術。它使(shǐ)用(yòng)掃描波形（由於正弦(xián)波諧(xié)波(bō)分量）信(xìn)號穩定，一般用交流(liú)正弦波，施(shī)加到沒(méi)有(yǒu)通電的電子設備兩(liǎng)端，在(zài)顯(xiǎn)示屏(píng)上（如示波(bō)器CRT或計(jì)算(suàn)機顯示器等(děng)）顯示該設備(bèi)對應(yīng)的V-I曲綫，該V-I曲(qū)綫(xiàn)也叫(jiào)模擬曲綫(xiàn)。
　　ASA的(dí)基本原(yuán)理(lǐ)
　　過去(qù)和現(xiàn)在仍(réng)然(rán)廣(guǎng)泛(fàn)使(shǐ)用(yòng)的檢測方(fāng)法(fǎ)之一，是通過用萬(wàn)用(yòng)表(biǎo)測(cè)量電路結(jié)點對地阻抗來(lái)判(pàn)斷與該(gāi)結點(diǎn)關聯的(dí)元(yuán)器(qì)件(jiàn)是否有(yǒu)端口型(xíng)故障(zhàng) 。究竟(jìng)某塊電路板的某些個結點的(dí)阻抗在(zài)什(shí)麼範(fàn)圍(wéi)表示(shì)*，什麼(mó)範圍(wéi)表示可能有故障(zhàng)，*由使用(yòng)者據(jù)經驗來(lái)判定(dìng)。經(jīng)常可(kě)以聽到(dào)“某(mǒu)人(rén)將某種電路板(bǎn)已經測(cè)熟(shú)了(liǎo)”的說(shuō)法(fǎ)，其(qí)含義很大程(chéng)度是指“經(jīng)多(duō)次(cì)測量(liáng)已(yǐ)經(jīng)對大部分(fēn)結點阻抗的正常(cháng)範圍(wéi)心中有數”。麵向維修(xiū)量大，但(dàn)需(xū)要維修(xiū)的(dí)電(diàn)路板的種類少的(dí)維修人(rén)員(yuán)，甚(shèn)至會將(jiāng)這類(lèi)數據的(dí)正常值詳細記錄(lù)下(xià)來(lái)供參照。大量(liáng)的(dí)應用實踐(jiàn)表(biǎo)明，這(zhè)種(zhǒng)檢(jiǎn)測(cè)方法(fǎ)不僅在(zài)經驗(yàn)豐(fēng)富的維修者手(shǒu)中相當有(yǒu)效(xiào)，而且(qiě)往往是(shì)沒有(yǒu)圖紙(zhǐ)資料，不(bù)能聯機檢測時(shí)*可用的(dí)方(fāng)法(fǎ)。但是，這(zhè)種方法有著(zhuó)明(míng)顯的(dí)局限性。
　　首(shǒu)先，用(yòng)萬用表(biǎo)測量到(dào)的(dí)電阻(zǔ)，是(shì)指在(zài)1.5V（萬(wàn)用(yòng)表(biǎo)電池電(diàn)壓(yā)）時所對應(yīng)的一(yī)個(gè)電(diàn)流值，表示(shì)在電壓－電(diàn)流(liú)平麵上(shàng)僅(jǐn)為一(yī)個點(diǎn)，見(jiàn)圖(tú)1。

　　對呈綫性特(tè)征的電(diàn)路(lù)結點(diǎn)，可(kě)以(yǐ)從(cóng)這個點(diǎn)推(tuī)算出在所有其(qí)它電壓(yā)下的(dí)電(diàn)流(liú)值(zhí)（當然(rán)主(zhǔ)要(yào)關(guān)心在工(gōng)作(zuò)電壓範(fàn)圍之(zhī)內(nèi)）；但(dàn)是(shì)，對呈現(xiàn)非綫性(xìng)特征的(dí)電(diàn)路(lù)結點(diǎn)則(zé)不(bù)能(néng)這(zhè)樣做。這(zhè)意(yì)味著(zhuó)1.5V時(shí)的電(diàn)流(liú)值(zhí)在正確範(fàn)圍內並不能保(bǎo)證(zhèng)在其(qí)它(tā)電(diàn)壓下的(dí)電(diàn)流值也(yě)會在正(zhèng)確(què)範(fàn)圍之(zhī)內(nèi)。解(jiě)決(jué)的辦法(fǎ)是多取幾個點，比如均(jūn)匀地(dì)取16個點，32個點，64個(gè)點(diǎn)甚至更(gēng)多，取值(zhí)範圍(wéi)從負(fù)到(dào)正，包括(kuò)整個工作電壓範(fàn)圍在內(nèi)（見(jiàn)圖2）。當(dāng)所(suǒ)取(qǔ)點足(zú)夠(gòu)密，就形成(chéng)一(yī)條曲綫，通(tōng)過(guò)整(zhěng)個曲(qū)綫的重(zhòng)合程度而(ér)不是一個點(diǎn)的重合程(chéng)度(dù)來(lái)判(pàn)別故(gù)障，顯然要直觀全(quán)麵得(dé)多(duō)。這(zhè)就是所謂的端口(kǒu)“模擬特征分析(xī)（Analog Signature Analysis）”的(dí)技術(shù)原理，習(xí)慣(guàn)上我們(mén)稱(chēng)之(zhī)為(wéi)“VI曲(qū)綫(xiàn)測試”。

　　ASA的(dí)應用(yòng)優(yōu)點(diǎn)
　　A，易於上手(shǒu)
　　通過將(jiāng)故障電路(lù)板的電路結點(diǎn)VI曲(qū)綫與(yǔ)好板上相應結(jié)點的VI曲(qū)綫相比較(jiào)，或者(zhě)和經(jīng)驗(yàn)曲綫(xiàn)相比較來(lái)發現(xiàn)故障，可以在不(bù)涉(shè)及電(diàn)路功能(néng)，沒(méi)有(yǒu)聯(lián)機(jī)測(cè)試(shì)的(dí)條件下進(jìn)行檢測，非(fēi)常(cháng)容易(yì)掌握(wò)。
　　B，適用(yòng)性強(qiáng)
　　ASA隻涉(shè)及元器件的端(duān)口，不(bù)涉及(jí)功(gōng)能(néng)，所(suǒ)以它(tā)可以(yǐ)同樣(yàng)好地(dì)適用於(yú)數字(zì)器件，模擬(nǐ)器件的測(cè)試，同樣好(hǎo)地適(shì)用於數字器(qì)件和器件，分立器件，中(zhōng)大規模集成(chéng)電(diàn)路。ASA測試是串行操作(zuò)的，即檢查完(wán)一(yī)個結(jié)點再檢查(chá)下一(yī)個(gè)結(jié)點，所以它(tā)不受(shòu)封(fēng)裝的限製，對(duì)任(rèn)何無法使用(yòng)測(cè)試夾(jiā)的分立元件，集成(chéng)電路，都可以(yǐ)使(shǐ)用(yòng)探棒去(qù)逐腳(jiǎo)（結點）檢查其(qí)特(tè)征(zhēng)曲綫。
　　ASA應用中(zhōng)的(dí)幾個(gè)問題(tí)
　　（1）阻抗差異(yì)過大
　　當(dāng)一(yī)個(gè)電路(lù)結點(diǎn)關(guān)聯的元器(qì)件端(duān)口阻抗(kàng)差異過大(dà)時，低阻器(qì) 件(jiàn)的特征會“淹(yān)沒”高阻(zǔ)特(tè)征。圖(tú)3中運放的輸(shū)入阻(zǔ)抗(kàng)遠(yuǎn)遠大於1k ，所(suǒ)以(yǐ)將觀察不(bù)到(dào)運放輸(shū)入(rù)阻(zǔ)抗對結點阻抗(kàng) 的(dí)影(yǐng)響。這(zhè)時(shí)將不能判斷(duàn)運放輸入(rù)正(zhèng)常(cháng)還是已(yǐ)經開(kāi)路(lù)。

　　（2）隻(zhī)能診斷(duàn)到結點
　　當檢(jiǎn)查(chá)出結(jié)點曲綫有(yǒu)明顯(xiǎn)改變時(shí)，究竟(jìng)是由(yóu)與(yǔ)該結(jié)點(diǎn)關聯(lián)的元器件(jiàn)中哪一(yī)個所引起(qǐ)，隻(zhī)能人為地做進一步(bù)判斷(duàn)。經驗(yàn)之(zhī)一是(shì)有(yǒu)源(yuán)器件故(gù)障率(shuài)比(bǐ)無源器件(jiàn)可(kě)能性大，輸出端(duān)故障(zhàng)率(shuài)比輸入端可(kě)能(néng)性大(dà)。
　　（3）故(gù)障判(pàn)斷(duàn)不(bù)直(zhí)觀(guān)
　　壞(huài)電路板(bǎn)和好(hǎo)電路板(bǎn)上相(xiāng)應（同(tóng)）結(jié)點的曲(qū)綫究竟有多大(dà)差異(yì)意(yì)味著有(yǒu)故(gù)障，差異(yì)在(zài)整個曲(qū)綫的什(shí)麼部(bù)位(wèi)更為敏感，對不同(tóng)的(dí)電路結點(diǎn)是不(bù)一樣(yàng)的；同樣功能的*電路板，或(huò)者(zhě)由於(yú)生產(chǎn)不同而電(diàn)路有所改(gǎi)進，或(huò)者電路雖(suī)無改動，但(dàn)使用型號相(xiāng)同(tóng)而廠家(jiā)不同的(dí)元(yuán)器(qì)件等原(yuán)因，都會(huì)造成(chéng)結點曲(qū)綫的差(chà)異等等。這些(xiē)要靠(kào)大量的(dí)實踐(jiàn)，靠(kào)使(shǐ)用(yòng)的經驗去(qù)加以(yǐ)zui後判別。所以有(yǒu)人說，這種(zhǒng)方法掌握容易，精(jīng)通難。
　　ASA的(dí)主(zhǔ)要指標(biāo)及應(yīng)用含義
　　（1）通(tōng)道數
　　ASA 通道(dào)一般(bān)是串行(háng)通(tōng)道。也(yě)就是說(shuō)，VI曲綫(xiàn)提取實際(jì)上(shàng)是(shì)一管腳（結點）一個(gè)管腳進行(háng)的。所(suǒ)以，當(dāng)元器件管腳(jiǎo)多於測試儀的(dí)通道(dào)，或(huò)測試(shì)夾(jiā)不(bù)適(shì)於(yú)被測器件(jiàn)的封(fēng)裝形(xíng)式時(shí)，總(zǒng)可(kě)以用探棒(bàng)來一(yī)個(gè)結點一(yī)個(gè)結(jié)點(diǎn)地提取(qǔ)，但(dàn)是，這會(huì)大大(dà)影(yǐng)響(xiǎng)提取和比較(jiào)VI曲(qū)綫(xiàn)的效率。
　　（2）掃描(miáo)電壓(yā)幅度(dù)
　　掃描(miáo)電(diàn)壓幅幅(fú)度(dù)是(shì)指(zhǐ)提(tí)取VI曲綫時加(jiā)在(zài)電路(lù)結(jié)點上(shàng)的電壓範圍。通常希望這(zhè)個範圍(wéi)包含(hán)了電路板工作電壓(yā)，但(dàn)又無須(xū)太大，這(zhè)樣(yàng)既可觀察到(dào)在整個(gè)工作電壓(yā)的曲綫(xiàn)形(xíng)狀，不丟(diū)失(shī)有效檢測(cè)信息(xī)，也不必擔(dān)心幅(fú)度(dù)過高引(yǐn)起不(bù)良影響。實(shí)用(yòng)中(zhōng)用8V，15V和18V掃(sǎo)描(miáo)電壓(yā)去(qù)分別(bié)處理5V，12V和(hé)15V器(qì)件工作(zuò)電(diàn)壓的(dí)電路板，即可滿(mǎn)足要(yào)求(qiú)。
　　（3）zui大短(duǎn)路電(diàn)流
　　zui大(dà)短路電(diàn)流(liú)指(zhǐ)取zui大掃(sǎo)描電(diàn)壓值，即被(bèi)測(cè)結點阻抗為零(líng)時，從測(cè)試端流(liú)入(rù)該結點的(dí)電(diàn)流。在測試(shì)非(fēi)功率元件(jiàn)和(hé)IC時(shí)，zui大短(duǎn)路(lù)電流(liú)一(yī)般不(bù)超(chāo)過(guò)10mA，而且掃描電壓幅度越(yuè)高(gāo)，相(xiāng)應zui大短(duǎn)路電壓(yā)電越小，以(yǐ)保證(zhèng)測試安全。但如(rú)果(guǒ)希望(wàng)將該(gāi)測試方法用於(yú)功率元器(qì)件的(dí)測(cè)試，zui大短(duǎn)路(lù)電流(liú)控製在10mA以下就(jiù)顯得(dé)太小(xiǎo)。有(yǒu)些(xiē)測試(shì)儀(yí)提(tí)供一檔(dàng)150mA的(dí)zui大(dà)短(duǎn)路電流，基(jī)本(běn)可以滿足(zú)大部分用戶的需(xū)求(qiú)。隻是切(qiē)記不要(yào)使(shǐ)用此(cǐ)檔(dàng)測試小功率(shuài)器件(jiàn)，以(yǐ)免(miǎn)損(sǔn)壞(huài)。
　　（4）掃(sǎo)描分(fēn)辨率(shuài)
　　掃描分(fēn)辨率指在整個掃(sǎo)描電壓(yā)幅(fú)度內(nèi)取(qǔ)多(duō)少個測試(shì)點(diǎn)。在掃(sǎo)描電(diàn)壓(yā)幅度一(yī)定時(shí)，取點(diǎn)越(yuè)多(duō)，兩(liǎng)點間(jiān)電(diàn)壓差就(jiù)越小，注入電(diàn)路結點(diǎn)的(dí)曲綫(xiàn)就越光(guāng)滑。有些測試儀在各種掃(sǎo)描(miáo)電(diàn)壓及(jí)掃(sǎo)描(miáo)頻(pín)率下均取128個測試點(diǎn)。
　　（5）掃描(miáo)波形(xíng)
　　掃描波(bō)形指(zhǐ)掃(sǎo)描電壓的變化規律。有些(xiē)測試儀提供正弦波(bō)，鋸(jù)齒(chǐ)波和(hé)三角(jiǎo)波(bō)。實(shí)用(yòng)中以正弦波為(wéi)，其(qí)諧波分量(liáng)zui少，zui容(róng)易(yì)得(dé)到穩定的VI曲(qū)綫。
　　（6）掃描頻(pín)率
　　掃(sǎo)描頻(pín)率指完(wán)成(chéng)一(yī)次掃描(miáo)過(guò)程的(dí)速度。實用中將某(mǒu)個頻率(shuài)的(dí)電(diàn)壓(yā)波(bō)形(xíng)注入(rù)到電路結點(diǎn)時，有(yǒu)時產生自(zì)激，結果(guǒ)不(bù)能(néng)提取(qǔ)到穩定(dìng)的VI曲(qū)綫(xiàn)，這時換一種掃描頻(pín)率(shuài)可(kě)取到(dào)穩定曲(qū)綫，需(xū)要(yào)注意的是，這個頻率無(wú)關。目前的(dí)有些(xiē)測試(shì)儀(yí)有(yǒu)48/390Hz兩(liǎng)種頻率可(kě)供(gōng)選擇。
　　（7）VI曲(qū)綫(xiàn)庫管理係(xì)統
　　VI曲(qū)綫(xiàn)庫(kù)管理係統支持VI曲綫的(dí)存儲(chǔ)，索引等(děng)操(cāo)作。在它(tā)的管(guǎn)理下，使用者可(kě)以(yǐ)將作為(wéi)參照的電路板(bǎn)（一般是*電路(lù)板(bǎn)）的結(jié)點(diǎn)曲綫，提取出(chū)來並(bìng)存(cún)放於計(jì)算(suàn)機(jī)中，供日(rì)後檢(jiǎn)測(cè)故障(zhàng)時作為比(bǐ)較標準。
　　ASA測(cè)試的(dí)要(yào)點(diǎn)
　　（1）積(jī)累*VI曲綫庫(kù)
　　將日(rì)後(hòu)可能(néng)需(xū)要檢(jiǎn)測和各種(zhǒng)電路(lù)板結(jié)點(diǎn)的VI曲綫(xiàn)庫作為日(rì)後(hòu)故障檢測參照標準，這樣(yàng)就能夠大(dà)大提(tí)高ASA測試(shì)的(dí)檢(jiǎn)測(cè)能力和(hé)效率。
　　（2）掌握(wò)基(jī)本VI曲綫(xiàn)
　　基本VI曲(qū)綫指常見元(yuán)器件在(zài)“離綫”（未焊接到電(diàn)路(lù)上(shàng)）情況(kuàng)下各管腳的(dí)VI曲綫。由於電路(lù)結點(diǎn)的VI曲綫，實際上是(shì)與此(cǐ)結點關聯(lián)的(dí)基本曲綫(xiàn)的並聯(lián)曲(qū)綫(xiàn)（即結點曲綫在某點(diǎn)切綫的(dí)斜率等(děng)於與(yǔ)此結(jié)點相連的各基(jī)本曲(qū)綫在該點(diǎn)切綫和(hé)斜(xié)率之和(hé)），所以如(rú)果知道了(liǎo)哪些元(yuán)器件關(guān)聯(lián)到該結點(diǎn)上，往往可(kě)以推(tuī)斷出該結(jié)點(diǎn)曲綫的大致形狀；反(fǎn)之，由該(gāi)結點的(dí)曲(qū)綫形(xíng)狀，可(kě)以大致(zhì)推出(chū)與(yǔ)該結點相(xiāng)關的(dí)元器件的類(lèi)型。或(huò)者在結(jié)點(diǎn)曲(qū)綫異常時可以推斷出(chū)與(yǔ)之(zhī)關聯的(dí)哪個(gè)元器(qì)件出故障的可能性zui大。
　　（3）利用電路(lù)板(bǎn)上(shàng)的重(zhòng)復電路
　　有些(xiē)電路板(bǎn)上(shàng)的電(diàn)路(lù)重復出現(xiàn)，可以用(yòng)作相互(hù)參(cān)考。

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