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國(guó)產(chǎn)-耐壓絕緣(yuán)接地(dì)泄漏(lòu)低電阻儀
國產-低電阻測試儀(yí)
AT5112熱敏(mǐn)電阻(zǔ)測(cè)試(shì)儀(yí)AT5112 PTC電阻(zǔ)測試儀

產(chǎn)品(pǐn)簡(jiǎn)介
熱敏(mǐn)電阻測試儀(yí)AT5112 PTC電(diàn)阻測試(shì)儀內(nèi)置2路電(diàn)阻測試電(diàn)路(lù),可(kě)同(tóng)時對標準PTC和被測PTC進(jìn)行測(cè)試得出(chū)差(chà)值(zhí)並換(huàn)算成實際值,忽略(lüè)PTC的(dí)自身溫(wēn)度敏(mǐn)感(gǎn)特性,達到(dào)精確測試,測試誤(wù)差小(xiǎo)於0.1Ω,準確(què)度(dù)0.1%。采樣(yàng)微處理(lǐ)器(qì)控(kòng)製的AT5112可實現不(bù)開(kāi)蓋校準,其Z高測試(shì)速度高(gāo)達50次(cì)/秒(miǎo),無論是人(rén)工(gōng)測試(shì)或是自動(dòng)化測試都(dū)應付(fù)自如(rú)。
熱敏電阻(zǔ)測試(shì)儀(yí)AT5112 PTC電(diàn)阻測(cè)試(shì)儀
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| AT5112是針對熱(rè)敏電(diàn)阻(zǔ)的雙(shuāng)路測試(shì)儀,內(nèi)置2路(lù)電(diàn)阻(zǔ)測(cè)試(shì)電(diàn)路(lù),可同時對標(biāo)準PTC和(hé)被(bèi)測PTC進行(háng)測(cè)試(shì)得(dé)出差值(zhí)並換算(suàn)成(chéng)實(shí)際(jì)值(zhí),忽(hū)略PTC的(dí)自(zì)身溫度敏感特性,達到精(jīng)確測試,測試誤差小於0.1Ω,準(zhǔn)確(què)度0.1%。 采樣微(wēi)處理器(qì)控製的AT5112可實(shí)現不(bù)開蓋(gài)校(xiào)準,其zui高測(cè)試速(sù)度高(gāo)達50次/秒,無論是人(rén)工測(cè)試或是自動(dòng)化測試都應付自(zì)如。 | |||||||||||||||||||||||||||
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| 技術規格 | |||||||||||||||||||||||||||
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| 性能特(tè)征(zhēng) | |||||||||||||||||||||||||||
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| 應(yīng)用 | |||||||||||||||||||||||||||
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