產(chǎn)品(pǐn)中心(xīn)
Product Center
當前位置(zhì)：首頁
產(chǎn)品(pǐn)中心(xīn)常州安柏(bǎi)|電橋(qiáo)-低(dī)電阻(zǔ)測(cè)試儀-電(diàn)池(chí)內阻測試儀-漏電(diàn)絕緣電(diàn)阻(zǔ)測試(shì)儀-負載直流電(diàn)阻測(cè)試(shì)儀AT5112 PTC安(ān)柏|AT5112 PTC 電阻(zǔ)測(cè)試(shì)儀
產品(pǐn)簡(jiǎn)介(jiè)
AT5112是(shì)針對熱敏電阻的雙路測試儀，內(nèi)置(zhì)2路電(diàn)阻測試(shì)電(diàn)路，可同(tóng)時對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測PTC進(jìn)行測(cè)試得出差(chà)值並換算(suàn)成(chéng)實際值，忽略(lüè)PTC的自(zì)身溫度敏感特性，達(dá)到精確測試，測(cè)試誤差小於0.1Ω，準(zhǔn)確(què)度0.1%。
| 品(pǐn)牌(pái) | 常州(zhōu)安柏(bǎi) |
|---|
| AT5112 PTC 電阻測(cè)試儀 | |||||||||
| AT5112是(shì)針對熱敏電阻的雙路測試(shì)儀(yí)，內置2路(lù)電阻測試(shì)電(diàn)路(lù)，可(kě)同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和(hé)被(bèi)測(cè)PTC進行測(cè)試得出差值(zhí)並換(huàn)算(suàn)成(chéng)實(shí)際(jì)值，忽略(lüè)PTC的自身溫(wēn)度(dù)敏(mǐn)感特性(xìng)，達到精(jīng)確測試(shì)，測試誤差小於(yú)0.1Ω，準確(què)度0.1%。 采樣(yàng)微處理器控(kòng)製(zhì)的AT5112可(kě)實(shí)現不開(kāi)蓋校(xiào)準(zhǔn)，其zui高測(cè)試速度(dù)高達50次(cì)/秒(miǎo)，無(wú)論是人工(gōng)測試或是(shì)自(zì)動(dòng)化(huà)測(cè)試都應付(fù)自如(rú)。 | |||||||||
 |  | ||||||||
| | |||||||||
| 技(jì)術(shù)規(guī)格 | |||||||||
| |||||||||
| 性能特(tè)征(zhēng) | |||||||||
| |||||||||
| 應用(yòng) | |||||||||
| |||||||||
product
產(chǎn)品分類(lèi)常州安(ān)柏|電橋(qiáo)-低(dī)電(diàn)阻測(cè)試儀-電池(chí)內阻測試(shì)儀(yí)-漏(lòu)電絕緣電阻測(cè)試儀-負載(zǎi)
上(shàng)一個：
返(fǎn)回列表
