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產(chǎn)品中心常州安柏(bǎi)|電(diàn)橋-低電(diàn)阻測試儀-電池(chí)內阻測(cè)試儀-漏(lòu)電(diàn)絕緣(yuán)電阻測(cè)試(shì)儀(yí)-負(fù)載(zǎi)手持(chí)式低電阻(zǔ)測試儀
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產品(pǐn)分類
AT518L手(shǒu)持直(zhí)流低(dī)電(diàn)阻測(cè)試儀(yí)是(shì)一(yī)種高精度(dù)寬量(liáng)程，采用(yòng)高性(xìng)能32位(wèi)ARM微(wēi)處理器控製的全自動實時檢(jiǎn)測的微型(xíng)手持式(shì)儀器(qì)，在任何場(cháng)合(hé)可長(cháng)時間實現對無(wú)源元(yuán)件進行(háng)精(jīng)確而(ér)便(biàn)捷的測量 。 儀器(qì)可(kě)以測試10μΩ～200KΩ的電阻， Z大顯(xiǎn)示數(shù)20000數。它*的電(diàn)流測(cè)試模(mó)式(shì)可(kě)以適(shì)應(yīng)不(bù)同要(yào)求的測試(shì)。並(bìng)配(pèi)備Mini-USB通(tōng)訊接口，用於(yú)遠(yuǎn)程控(kòng)製和數據(jù)采(cǎi)集(jí)與分析。
更新(xīn)時間(jiān)：2017-12-25
產(chǎn)品型(xíng)號(hào)：AT518L
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AT518手持直(zhí)流低電阻(zǔ)測(cè)試儀(yí)是(shì)一種(zhǒng)高精度寬量程，采(cǎi)用高(gāo)性(xìng)能32位ARM微(wēi)處理器控(kòng)製的全(quán)自動(dòng)實時(shí)檢(jiǎn)測的微型手持(chí)式(shì)儀(yí)器，在(zài)任何(hé)場合(hé)可長時(shí)間(jiān)實(shí)現(xiàn)對(duì)無源(yuán)元件(jiàn)進行精(jīng)確(què)而(ér)便捷的測量(liáng) 。 儀器可以(yǐ)測(cè)試(shì)10μΩ～20MΩ的電阻， Z大顯(xiǎn)示數(shù)20000數。它*的(dí)電流測試模式可以適應不(bù)同(tóng)要求的測試。並(bìng)配(pèi)備Mini-USB通(tōng)訊接口(kǒu)，用(yòng)於(yú)遠程(chéng)控(kòng)製和(hé)數(shù)據(jù)采(cǎi)集與分(fēn)析(xī)。
更新時間：2017-11-26產品型(xíng)號：AT518瀏覽量(liáng)：2236