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產品分(fēn)類(lèi)常(cháng)州安柏(bǎi)|電橋(qiáo)-低電(diàn)阻測試(shì)儀-電池內阻測(cè)試儀(yí)-漏(lòu)電(diàn)絕(jué)緣(yuán)電(diàn)阻測試儀-負載
AT510M是一種(zhǒng)采(cǎi)用高性(xìng)能微(wēi)處理器控(kòng)製的智(zhì)能電阻(zǔ)測試儀。可以(yǐ)測試100μΩ～20MΩ的電阻，Z大顯示(shì)30,000數。經(jīng)濟型(xíng)配(pèi)置(zhì)。針對中高阻值設計。
更新(xīn)時(shí)間：2017-12-08
產品型號(hào)：AT510M
瀏覽(lǎn)量：2133AT510L是(shì)一種(zhǒng)采用高(gāo)性(xìng)能微處理(lǐ)器控(kòng)製的電阻測(cè)試(shì)儀(yí)。可(kě)以測試(shì)1μΩ～30kΩ的電阻，Z大顯示30,000數。經濟型(xíng)，針對(duì)低電阻的(dí)電阻測試儀。
更(gēng)新時(shí)間：2017-12-07產品型號(hào)：AT510L瀏覽量：2233AT510是一種(zhǒng)高(gāo)精(jīng)度(dù)寬量(liáng)程，采用(yòng)高(gāo)性(xìng)能(néng)微處(chǔ)理器控製(zhì)的電阻(zǔ)測試(shì)儀。可(kě)以(yǐ)測(cè)試(shì)1μΩ～3MΩ的(dí)電(diàn)阻(zǔ)，Z大顯示30,000數。Z高(gāo)測試(shì)速度(dù)60次/秒(miǎo)，測試速度(dù)在15次/秒下，依(yī)然可以(yǐ)保證(zhèng)0.05%的準確度(dù)，並且(qiě)讀(dú)數(shù)跳(tiào)動(dòng)可(kě)控製(zhì)在3字以(yǐ)下。標(biāo)配(pèi)溫度(dù)補(bǔ)償(cháng)功(gōng)能(néng)，可對(duì)米電(diàn)阻進行(háng)精(jīng)確(què)測(cè)試。可(kě)選(xuǎn)耳機(jī)訊響(xiǎng)接口用(yòng)於流水(shuǐ)綫(xiàn)安靜(jìng)測(cè)試，互不(bù)幹(gān)擾(rǎo)。三種電流(liú)模(mó)式可滿(mǎn)足各種(zhǒng)苛(kē)刻的(dí)電(diàn)阻測試要求。
更(gēng)新時(shí)間(jiān)：2017-12-15產(chǎn)品型號(hào)：AT510瀏覽量：2036AT510PRO是(shì)一種高精(jīng)度寬(kuān)量程，采用(yòng)高(gāo)性能(néng)微處(chǔ)理器(qì)控製的電阻測(cè)試儀。可(kě)以(yǐ)測試1μΩ～20MΩ的電(diàn)阻，Z大顯示30,000數。高(gāo)速(sù)測(cè)試(shì)60次(cì)/秒，測試速(sù)度在15次/秒下(xià)，依然可(kě)以保證0.05%±2字(zì)的(dí)準(zhǔn)確度(dù)。它(tā)*的三種電(diàn)流(liú)測試模(mó)式(shì)（大(dà)電(diàn)流，小(xiǎo)電流(liú)，脈衝測(cè)試(shì)模式(shì)）可以適(shì)應(yīng)不(bù)同要求的(dí)測試。
更新(xīn)時間(jiān)：2017-12-02產(chǎn)品型(xíng)號：AT510Pro瀏覽量：2013
LX-F海(hǎi)綿硬度(dù)計(jì):適(shì)用於(yú)測(cè)定(dìng)軟(ruǎn)的泡沫(mò)材(cái)料，聚氨脂泡(pào)沫膠(jiāo)料(liào)製(zhì)品硬度，這(zhè)種硬度計(jì)與(yǔ)其(qí)他硬(yìng)度計在測(cè)定使用方麵有所(suǒ)不同，在使用時(shí)，壓(yā)腳(jiǎo)直接在試樣上接(jiē)觸，並(bìng)利(lì)用(yòng)它(tā)自己(jǐ)的(dí)重量(liáng)作為測力負(fù)荷。
更新(xīn)時間：2017-07-15產品型(xíng)號：LX-F瀏覽量(liáng)：2500
當(dāng)前位(wèi)置：
