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產品分(fēn)類(lèi)常州安(ān)柏|電(diàn)橋-低電阻測(cè)試儀(yí)-電池內(nèi)阻(zǔ)測試儀-漏電絕緣電阻(zǔ)測(cè)試(shì)儀-負載
AT510M是一種(zhǒng)采用(yòng)高(gāo)性(xìng)能(néng)微處理器(qì)控製的智(zhì)能(néng)電阻測(cè)試(shì)儀。可(kě)以測試(shì)100μΩ～20MΩ的電阻(zǔ)，Z大顯(xiǎn)示(shì)30,000數。經濟型(xíng)配置(zhì)。針對中高阻值設計。
更新(xīn)時間(jiān)：2017-12-08
產品(pǐn)型號(hào)：AT510M
瀏(liú)覽量(liáng)：2135AT510L是一(yī)種(zhǒng)采(cǎi)用高性(xìng)能(néng)微(wēi)處理器(qì)控製(zhì)的電阻(zǔ)測試(shì)儀(yí)。可以測試1μΩ～30kΩ的(dí)電阻(zǔ)，Z大(dà)顯(xiǎn)示(shì)30,000數(shù)。經濟型(xíng)，針對低電(diàn)阻(zǔ)的(dí)電阻測試儀。
更新時間(jiān)：2017-12-07產品型(xíng)號(hào)：AT510L瀏(liú)覽量：2235AT510是(shì)一種高精度(dù)寬量程，采用高性能(néng)微(wēi)處理器控製的電阻(zǔ)測(cè)試儀(yí)。可(kě)以測(cè)試1μΩ～3MΩ的電阻(zǔ)，Z大(dà)顯(xiǎn)示(shì)30,000數。Z高(gāo)測試速度60次/秒，測(cè)試(shì)速(sù)度(dù)在(zài)15次/秒下，依(yī)然可(kě)以保(bǎo)證0.05%的準確(què)度，並且讀數(shù)跳動可控製(zhì)在3字以下。標配溫度(dù)補(bǔ)償(cháng)功(gōng)能(néng)，可對米電(diàn)阻(zǔ)進行(háng)精確測(cè)試(shì)。可選耳機訊響接(jiē)口用於流(liú)水綫(xiàn)安靜測試，互(hù)不幹擾。三(sān)種電(diàn)流模式可滿足(zú)各(gè)種(zhǒng)苛刻的電阻(zǔ)測(cè)試(shì)要求(qiú)。
更新時間(jiān)：2017-12-15產品(pǐn)型號：AT510瀏(liú)覽量：2037AT510PRO是(shì)一種(zhǒng)高精(jīng)度寬量程，采(cǎi)用高性(xìng)能(néng)微(wēi)處理(lǐ)器控製的電阻(zǔ)測試(shì)儀。可(kě)以測試(shì)1μΩ～20MΩ的電(diàn)阻，Z大顯示(shì)30,000數。高速(sù)測試(shì)60次/秒(miǎo)，測(cè)試(shì)速度在15次/秒(miǎo)下(xià)，依然(rán)可以(yǐ)保(bǎo)證0.05%±2字的(dí)準確度(dù)。它*的三種(zhǒng)電(diàn)流(liú)測試模式（大電流(liú)，小(xiǎo)電(diàn)流，脈(mài)衝(chōng)測試(shì)模(mó)式(shì)）可(kě)以(yǐ)適應(yīng)不同(tóng)要(yào)求的測試(shì)。
更新(xīn)時(shí)間(jiān)：2017-12-02產品型號(hào)：AT510Pro瀏(liú)覽量：2015
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