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常(cháng)州安柏|電(diàn)橋-低(dī)電阻(zǔ)測試(shì)儀-電池內(nèi)阻測(cè)試(shì)儀(yí)-漏電絕緣(yuán)電阻(zǔ)測試儀(yí)-負(fù)載(zǎi)
漏(lòu)電流(liú)-絕緣電(diàn)阻表
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產(chǎn)品(pǐn)分類常州(zhōu)安柏|電(diàn)橋(qiáo)-低電阻測試儀-電(diàn)池內阻(zǔ)測試(shì)儀(yí)-漏(lòu)電絕緣電阻(zǔ)測(cè)試儀-負載(zǎi)
AT683*1V~1000V任(rèn)意電壓輸出(chū),滿足任(rèn)何挑剔(tī)的(dí)要求(qiú)。六(liù)量程(chéng)測試(shì),使絕(jué)緣電阻測量(liáng)範(fàn)圍可(kě)達(dá):100k-10TΩ(105~1013Ω),Z大顯(xiǎn)示位數9999數。測(cè)試速度可(kě)達55次/秒(miǎo),超高(gāo)速測(cè)試(shì)為(wéi)自(zì)動化(huà)生(shēng)產提(tí)供(gōng)了(liǎo)Z佳(jiā)方(fāng)案(àn)。
更新時間:2017-12-25
產(chǎn)品型(xíng)號:AT683
瀏覽(lǎn)量:2318AT682L 使絕緣(yuán)電(diàn)阻測(cè)量範圍:10k-500GΩ(104~5x1011Ω),Z大顯示(shì)位數9999數(shù)。測試速(sù)度(dù)可達15次/秒(miǎo),超(chāo)高速(sù)測(cè)試(shì)為自(zì)動化生(shēng)產提供了Z佳方(fāng)案。
更(gēng)新時間:2017-12-07
產(chǎn)品型(xíng)號(hào):AT682L
瀏覽(lǎn)量:2032AT682SE六量程(chéng)測(cè)試(shì),使(shǐ)絕緣電阻(zǔ)測(cè)量範圍可達:10k-1TΩ(104~1012Ω),Z大(dà)顯示位(wèi)數(shù)9999數(shù)。測試速度(dù)可(kě)達(dá)55次/秒(miǎo),超高速測試為自動化生產提(tí)供了(liǎo)Z佳方(fāng)案。
更新時(shí)間:2017-12-01
產品(pǐn)型號(hào):AT682SE
瀏(liú)覽量:1900AT682內置(zhì)1V~1000V任意(yì)電壓(yā)輸出,滿(mǎn)足任何挑剔的(dí)要求。六(liù)量程測試,使(shǐ)絕緣(yuán)電阻測(cè)量範圍可達(dá):10k-1TΩ(104~1012Ω),Z大顯示(shì)位(wèi)數9999數(shù)。測試(shì)速度可(kě)達(dá)55次(cì)/秒(miǎo),高(gāo)速(sù)測試(shì)為(wéi)自動化生(shēng)產(chǎn)提供了(liǎo)Z佳方案。
更(gēng)新時間(jiān):2017-12-07
產品型(xíng)號:AT682
瀏覽量:2980AT680S數控測試電壓:1V~650V,6量程測試(shì),漏電(diàn)流(liú)精度(dù)2%,測試10nA~20mA,Z大顯示(shì)位數1999數(shù)。測(cè)試速(sù)度可達15次/秒,超(chāo)高速(sù)測(cè)試為自動化生(shēng)產提供(gōng)了(liǎo)Z佳方案,並(bìng)且(qiě)可(kě)*替(tì)代(dài)模(mó)擬指針(zhēn)表(biǎo)。
更新(xīn)時(shí)間(jiān):2017-12-07
產品(pǐn)型(xíng)號:AT680SE
瀏覽量:2344